CIT-3000SMP便攜式X熒光分析儀是集當今最新電子技術、計算機技術和核分析方法于一體，具有國際先進水平的高靈度元素分析儀器。采用分辨率最好的進口電制冷半導體探測器和進口的微型X光光管，可以對分析樣品自動分類測量，多種元素同時分析，是目前市場上分析精度最高、智能化程度最好的便攜式分析儀器。適用于各種鋼材、有色、黑色礦山、選礦廠、冶煉廠、購礦企業(yè)、質檢站進行現(xiàn)場快速測量分析和地質勘探、作巖礦露頭現(xiàn)場測量、鉆孔巖蕊直接測量、坑道井壁測量和室內粉末測量.功能特點1. 采用進口電致冷Si-PIN半導體探測器，分辨率高、測量元素多.2. 采用進口小型X光管激發(fā)，一次激發(fā)全部待測元素，激發(fā)效率高，性能穩(wěn)定，輻射計量小，安全可靠.3.可對粉末狀或塊狀樣品直接測量.4. 掌上電腦控制，具有藍牙功能，可實現(xiàn)無線傳輸，遙控操作。5. 2048道多道譜儀實時測量顯示，對樣品X光譜進行精細分析，系統(tǒng)可自動識別6. 譜線，方便地了解樣品的組成.7. 可一次性實現(xiàn)19種元素的快速、無損、準確分析.8. WinXP界面應用軟件，全中文操作系統(tǒng)操作.9. 軟件數(shù)據(jù)庫功能強大，譜數(shù)據(jù)顯示、譜峰標記、能量定標、凈強度、預置時間等.10.自動穩(wěn)譜，消除譜峰漂移影響，確保儀器長期穩(wěn)定，無需反復標定工作曲線元素識別、剝離重疊譜自動進行.11.譜峰重疊時，軟件可以解譜.12.線性擬合、基體校正、結果顯示.3.主要技術指標1. 采用2048道多道分析器.2. 分析元素：S、P、K、Ca、Ti、V、Mn、Fe、Ni、Cu、Zn、As、Mo、Pb、Cr等（S-U）.3. 進口Si(Li)半導體探測器，優(yōu)于150eV.4. 采用進口小型X光管（高壓一體化）激發(fā)，管壓HV：0-40KV，管流 HC：0-50uA.5. 分析范圍：1ppm-99.99%6. 測量范圍：1.0-35.0kev.7. 重復性： 0.1%8. 穩(wěn)定性： 0.01%9. 測量時間： 200S.10.整機功耗：5W.