Rise-3002型顆粒圖像分析儀由光學(xué)顯微鏡（放大倍數(shù)最大1600倍）、CCD攝像機(jī)和圖像采集卡組成，并需連接計(jì)算機(jī)和打印機(jī)使用。該系統(tǒng)將傳統(tǒng)的顯微測量方法與現(xiàn)代化的電子技術(shù)、圖像處理技術(shù)相結(jié)合，使用專用攝像機(jī)將顯微鏡放大的顆粒圖像拍攝下來，通過圖像采集卡將圖像傳輸?shù)诫娔X中，計(jì)算機(jī)自動(dòng)地對顆粒的形貌特征進(jìn)行分析，能直觀、準(zhǔn)確的觀察被測顆粒的形貌，并可打印出顆粒直觀圖形。 產(chǎn)品名稱;Rise-3002型顆粒圖像分析儀 測量范圍：1～3000微米最大光學(xué)放大倍數(shù)：1600倍最大分辨率：0.1微米/像素準(zhǔn)確性誤差： 3%(國家標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì))重復(fù)性偏差： 3%(國家標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì))數(shù)據(jù)輸出：周長分布、面積分布、長徑分布、短徑分布、周長相當(dāng)徑分布、面積相當(dāng)徑分布、Feret徑分布、長短徑比、中間徑（D50）、有效粒徑（D10）、限定粒徑（D60）、D30、D97、個(gè)數(shù)長度平均徑、個(gè)數(shù)面積平均徑、個(gè)數(shù)體積平均徑、長度面積平均徑、長度體積平均徑、面積體積平均徑、不均勻系數(shù)、曲率系數(shù)